Text

Transisi Fase Polimorf Efavirenz Hasil Rekristalisasi Menggunakan Pelarut N Heksan Akibat Variasi Suhu

---

Efavirenz diketahui mengalami polimorfisme, yaitu kemampuan membentuk dua atau lebih bentuk kristal yang memiliki perbedaan susunan dan/atau konformasi molekul dalam kisi kristal. Senyawa polimorf rentan mengalami transformasi dalam proses manufaktur. Penelitian ini bertujuan untuk melihat adanya transformasi dan mempelajari transfomasi polimorfik evafirenz dari pelarut n-heksan. Tahapan penelitian dimulai dari pembuatan polimorf efavirenz menggunakan pelarut n-heksan dengan metode rekristalisasi, karakterisasi polimorf menggunakan FTIR (Fourier Transform Infrared), XRPD (X-Ray Powder Diffractometer) dan DSC (Differential Scanning Calorimeter), dan pengujian transformasi polimorfik efavirenz yang diinduksi suhu menggunakan spektrometer Raman. Hasil FTIR menunjukkan bahwa polimorf yang terbentuk tidak memiliki perbedaan gugus fungsi dengan efavirenz awal. Hasil XRPD menunjukkan polimorf yang terbentuk memiliki puncak yang berbeda dengan efavirenz awal. Sedangkan pada pengamatan DSC, titik leleh polimorf (139,65oC) dengan efavirenz awal (139,6oC) sama, namun terdapat puncak lain sebelum titik leleh pada termogram polimorf uji yang menandakan adanya transformasi. Spektrum Raman menunjukkan bahwa polimorf uji yang diinduksi pemanasan (70oC, 85oC, 100oC, dan 115oC; 60 menit) mengalami transformasi menuju bentuk efavirenz awal. Dengan demikian, dapat disimpulkan bahwa efavirenz dari pelarut n-heksan mengalami transformasi polimorfik dan peningkatan suhu menginduksi transformasi polimorf menjadi bentuk stabilnya.
Kata kunci: Efavirenz, polimorfisme, n-heksan, transformasi

---

Availability @Fakultas Farmasi

No copy data

Detail Information

Series Title

-

Call Number

3436

Publisher

: Fakultas Farmasi Universitas Padjadjaran., 2016

Collation

-

Language

Indonesia

ISBN/ISSN

-

Classification

3436

Content Type

-

Media Type

-

Carrier Type

-

Edition

NULL

Subject(s)

-

Specific Detail Info

-

Statement of Responsibility

-

Other version/related

File Attachment

Comments

---

You must be logged in to post a comment